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深圳市凯光新光电设备有限公司
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3D光学轮廓仪是利用白光干涉原理测量样品表面光学轮廓等的测量系统,新一代光学轮廓仪白光干涉仪结合了先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件前所未有的操作简易性,推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。
光学轮廓仪特征:
业界最高的垂直分辨率,最强大的测量性能;
0.5~200倍的放大倍率;
任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程;
光学轮廓仪测量硬件的独特设计,增强生产环境中的可靠性和重复性;较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力专利的自动校准能力;
多核处理器下运行的SuperView软件,大大提高三维表面测量和分析速度数据处理速度提高几十倍;分析速度提高十倍;
无以伦比的大量数据无缝拼接能力
光学轮廓仪高度直观的用户界面,拥有业界最强的实用性,操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程;独特的可视化操作工具;可自行设置数据输出的界面;
光学轮廓仪应用:
对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据。
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